文山蔡司开启电子显微镜速度的革新时代

　　借助 MultiSEM 显微镜，您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的文山扫描电子显微镜(SEM)专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。

　　使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。

　　以极高速度和纳米分辨率采集图像

　　91 条电子束同时工作，拥有出色的成像速度。

　　在几分钟内对1 mm2的区域成像，分辨率高达 4 nm。

　　借助经优化的二次电子探测器，以低信噪比采集高衬度图像。

　　大型样品的采集和成像

　　MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。

　　对整个样品成像并发现所有细节，助力于科研。

　　自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像，且不丢失可见信息。

　　ZEN 成像软件

　　使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM，该软件被应用于所有蔡司成像系统

　　智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像

　　根据样品的实际情况，快速轻松地创建复杂的自动采集流程

　　MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像

　　开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发

　　对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取

　　使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织。 内搜集多达1000个连续切片。

将切片用胶带固定在硅晶片上并用蔡司的文山光学显微镜成像。使用蔡司的 ZEN 成像软件以及 Shuttle & Find 功能组件对整体成像。再将硅晶片移至 MultiSEM 电子显微镜下，对样品进行整体预览并利用 ZEN 软件用户界面规划整个实验。

用图形化的控制中心设置整个实验。高效的自动切片检测可以识别和标注感兴趣区域，节省大量时间。